大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。

利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

ZETA电位·粒径·分子量测试系统·ELSZneo
【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。
ELSZ series的级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。 全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。 在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。

特点

● 可对应从稀薄到浓厚溶液（~40%）宽浓度范围的粒径和ZETA电位测量

● 通过多角度测定，可测量分辨率更高的粒径分布

● 可以在高盐浓度下测量平板样品的ZETA电位

● 通过静态光散射法可测量粒子的浓度

● 能过动态光散射法可测量微流变学

● 通过测量凝胶样品在多个点的散射强度和扩散系数，可以分析凝胶的网络结构和不均匀性。

● 可以在0 ~ 90℃的宽温度范围内进行测量

● 通过温度梯度功能，可对蛋白质等的变性及相变温度进行解析

● 通过样品池内的实测电气浸透流图分析，提供高精度的ZETA电位测量结果,

● 可安装荧光滤光器(选配)

用途

非常适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学领域的基础研究和应用研究，不仅涉及微小颗粒，还涉及薄膜和平板表面的科学研究。

● 新型功能材料领域

- 燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功能膜、催化剂、纳米金属）

- 纳米生物相关（纳米胶囊、树枝状聚合物、DDS、纳米生物粒子）、纳米气泡等

● 陶瓷/着色材料工业领域

- 陶瓷（二氧化硅/氧化铝/氧化钛等）

- 无机溶胶的表面改性/分散/聚集控制

- 颜料的分散/聚集控制（炭黑/有机颜料）

- 浆料状样品

- 滤光器

- 浮游选定矿物的捕集材料的收集和研究

● 半导体领域

- 异物附着在硅晶片表面的原理解析

- 研磨剂和添加剂与晶片表面的相互作用的研究

- CMP浆料的相互作用

● 聚合物/化工领域

- 乳液（涂料/粘合剂）的分散/聚集控制，乳胶的表面改性（医药/工业）

- 聚电解质（聚苯乙烯磺酸盐，聚羧酸等）的功能研究

- 功能纳米颗粒纸/纸浆造纸过程控制和纸浆添加剂研究

● 制药/食品工业领域 　

- 乳液（食品/香料/医疗/化妆品）分散/聚集控制及蛋白质的机能性检测

- 脂质体/囊泡分散/聚集控制及表面活性剂（胶束）机能性检测