| 产品特性：分析仪 | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 加工定制：否 | 品牌：otsuka大塚 | 型号：RETS-100nx New |
大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
相位差测量装置 RETS-100nx New
产品信息 特 点 采用了偏光光学系和多通道分光检出器 有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到***0代的大型基板 安全对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备 测量项目...
特 点
使用***的光谱仪实现高精度测量
精度高的原因
● 使用***的高性能多通道光谱仪（型号：MCPD）对光谱进行解析
● 可获取较多的透过率信息 实现高精度测量
(获得的透射率信息约为 500 波长，是其他公司产品的约50 倍）。
