大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
otsuka大塚用于光学特性评价?检查的产品线扫描膜厚仪【在线型】

产品信息 特点 采用线扫描方式检测整面薄膜 硬件软件均为创新设计 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援 实现高精度测量（已获取***） 实现高速测量 不受偏差影响 可对应宽幅样...

以高速?高精度?高可靠性且有市场实际应用的分光器MCPD系列为基础，在中国的显示器市场上有着20年以上销售实例，为许多厂家在研究开发、生产部门所使用。并且在光源?照明相关方面，对研究机构、各个厂家的销售量在逐步扩大。

我们的产品涵盖LED、OLED等光源和照明行业，液晶和有机EL显示的光学特性评估设备、测量半导体晶圆和薄膜厚度的设备，以及评估墨水、研磨剂、医药和化妆品材料的纳米颗粒（粒径和ζ电位）设备。

  特点

● 采用线扫描方式检测整面薄膜

● 硬件&软件均为创新设计

● 作为专业膜厚测定厂商，提供多种支援

● 实现高精度测量（已获取***）

● 实现高速测量

● 不受偏差影响

● 可对应宽幅样品（TD方向可测量10m）