| 产品特性：分析仪 | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 加工定制：否 | 品牌：otsuka大塚 | 型号：otsuka大塚 |
大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
光波动场三次元显微镜
MINUK可评价nｍ级的透明的异物?缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏?非接触?非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
特点
可评价nｍ级的透明的异物?缺陷 一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息 无需对焦，可高速测量 可非破坏?非接触?非侵入的测量 可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置
测量案例
将肉眼无法看见的透明薄膜表面可视化?定量化
可以非接触、非破坏性、非侵入性地获得nm级的形状信息。通过一次拍照即可获取深度方向的信息，可以将透明薄膜表面上肉眼不可见的划痕和缺陷的横截面形状数值化实现可视化。
观察透明薄膜内部的填充剂
肉眼无法看到的透明薄膜内部的填充剂，通过一次拍照即可观察到。此外，通过在测量后改变深度方向的焦点，可以识别到各个深度的填充剂。
