大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。

利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

总光谱光通量测量系统 HM series

产品信息 特点 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从250毫...

特点

● 可处理高达2400mm的直管光学总光通量测量
● 测量系统符合IESNA的LM-79和LM-80标准
● 采用新的探测器，可以进行广动态范围的测量
● 测量部分的尺寸（积分球或积分半球）从φ250毫米到φ3000毫米都能对应
● 支持LIV测量，脉冲点测量，样品温度测量
● 兼容脉冲宽度调制（PWM）调光

对应总光通量测量的所有要求

评价项目

● 总光通量[JISC7801：2009/JISC8152：2007]
● 光谱总辐射通量（光谱）
● 颜色匹配标准差（SDCM）
● 色度坐标（U，V）[CIE1960UCS]
● 色度坐标（X，Y）[JISZ8724：1997]
● 色度坐标（U&＃39;V&＃39;）[CIE1976UCS]
● 相关色温与Duv[JISZ8725：1999]
● 主波长（Dominant）和激发纯度（Purity）[JISZ8701：1999]
● 显色评价数（RA，R1?R15）[JISZ8726：1990]

特点

● 可以改变光源的照明方向，因此可在实际使用条件下进行测量
● 排除积分空间以外的发光部件，消除吸收误差
● 积分空间的一半亮度（灵敏度）为两倍
● 适用于表面发射光源的总光通量测量
● 样品温度调节方便，因为除了发光表面外，它可以放置在整体半球外面
（也对应高功率光源）
● 可消除样品光源本身阴影的影响，是测量大样品的理想选择
（可对应积分球直径的1/3）