| 产品特性：分析仪 | 是否进口：否 | 产地：日本 |
| 加工定制：否 | 品牌：otsuka大塚 | 型号：New |
大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。
利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。
紫外分光辐射照度测量系统 New
产品信息 特征 该检测器 是一种高性能的分光光度计 ，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等 方面取得 了 多项成果 。 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围 带软件的样品照明电源...
特征
● 该检测器是一种高性能的分光光度计，在光源测量、反射/透射测量、过程测量等方面取得了多项成果。
● 覆盖从紫外线到可见光的宽波长范围
● 带软件的样品照明电源，测量仪器批量控制
● LIV测量，脉冲点测量，样品温控测量
● 设备校准的标准灯由我们自己的部门提供，并由 JCSS 校准公司注册。
评价项目
照度、辐照度
光谱数据（光谱辐照度）
其他测量项目
三刺激值 XYZ、色度坐标 xy、uv、
u&＃39;v&＃39;相关色温、Duv、主波长、刺激纯度 显色指数 Ra、R1 至 R15峰值波长、半宽光子通量密度 PFD、光合光子磁通密度PPFD
