大塚电子从其创立之初就以光散射技术和分离技术为基础，这些技术不仅是公司的技术根源，也是新材料分析的核心技术并以这些技术开发、生产和销售独特的产品。利用光散射技术的产品是大塚电子历史最悠久的产品系列之一。在许多大学、官方机构和企业中，做为功能材料和新材料物性评估测量设备被高度评价。在接受各方面的建议和帮助下，不断开发分子量测定、微粒子粒径测定和电位测定设备，并在各应用领域进行改进。同时，从基础研究到质量控制的用途不断扩大，在这一领域已经成为日本的国产制造商，获得了极高的信任。

利用光散射作为新材料分析的核心技术，并将其应用于纳米技术领域的物性测量。以粒子大小、电位和分子量的测量方法作为基准，拓展新材料、生命科学、高分子化学，以及半导体和医药等领域的应用。

用于透过率/吸光度测量的多通道光谱仪MCPD series

是从紫外到近红外领域对应的多功能多通道分光检测器。***5ms即可进行光谱测量。标准装置的光纤可支持各种测量系统，而无需确定样品种类。以显微分光、光源发光、透射、反射测定为首，通过与软件的组合，也可以对应物体颜色评价、膜厚测定等。

特长

根据用途的各种检测器的阵容

以档次的机型MCPD-9800为首，拥有两个系列，共达9个波长范围的检测器型号。

可配合客户的需求与测量用途，选择最适合的检测器。

通讯接口可支持USB和LAN

具备了通用的USB端口，以及能满足远程遥控测量的LAN通信功能。便捷性和测量用途的范围扩大。

高速、高感度测量光谱

利用512ch或者1024ch的检测单元与检测器内部的存储器，对实时变化的紫外、可视、近红外领域的发光、透过和吸收光谱，能够以速度5微秒（MCPD-9800机型的情况下）间隔进行高感度、高精度的测量。

利用光纤搭建更自由好用的光学系

通过标准配置的光纤，不再受到样品形状和大小的约束，从而能够搭建更自由的光学系。另外，能更容易与显微镜、大型平台等其他装置进行组合，在所有领域都得以发挥其优异的性能。此外，它很容易与显微镜和大型载物台等其他设备结合使用，因此在各个领域都表现出***的性能。

可靠性

对应日本工业标准（JIS）！能够提供高性能的分光测光器

MCPD能满足日本工业标准JIS z 8724（颜色的测量方法-光源色)中对分光测光器的所有精度要求，尽可放心使用。